X Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2018
- saswroclaw
- 5 gru 2018
- 1 minut(y) czytania
W dniach 28 litopada - 02 grudnia 2018 w Zakopanem odbyło się X Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2018. Zaprezentowane zostały następujące prace:
Andrzej Sikora, Joanna Warycha, Patrycja Żurek, Wykorzystanie technik mikroskopii korelacyjnej w obserwacji zmian właściwości powierzchni spowodowanych działaniem czynników zewnętrznych, książka streszczeń seminarium STM/AFM, Zakopane 2018, s. 107 Andrzej Sikora, Patrycja Żurek, Wykorzystanie płaszczyzny plazmowej w badaniach submikronowych niejednorodnych materiałów i struktur, książka streszczeń seminarium STM/AFM, Zakopane 2018, s.89
Ostatnie posty
Zobacz wszystkieW dniach 1-3.07.2019 we Wrocławiu odbyła się IX Krajowa Konferencja Nanotechnologii (http://wzmin.pwr.edu.pl/nano2019). Zaprezentowane...
